Universität Stuttgart
OPUS - Online Publikationen der Universität Stuttgart
Auflistung nach Autor Leonhardt, Klaus
Anzeige der Treffer 1 bis 12 von 12
Erscheinungsdatum | Titel | Autor(en) |
1984 | Determination of average roughness and profile autocorrelation width of metallic surfaces with a white light sensor | Leonhardt, Klaus; Kaufmann, Ekkehart; Tiziani, Hans J. |
1980 | Holography and speckle techniques for real time displacement deformation and vibration analysis | Tiziani, Hans J.; Klenk, Jürgen; Leonhardt, Klaus |
1993 | Micro shape and rough surface analysis by fringe projection | Leonhardt, Klaus; Droste, Ulrich; Schön, Stefan; Voland, Christoph; Tiziani, Hans J. |
1991 | Micro-ellipso-height-profilometry | Leonhardt, Klaus; Jordan, Hans-Joachim; Tiziani, Hans J. |
1994 | Microshape and rough-surface analysis by fringe projection | Leonhardt, Klaus; Droste, Ulrich; Tiziani, Hans J. |
1989 | Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-Laserinterferometrie | Leonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J. |
1989 | Optical methods of measuring rough surfaces | Leonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J. |
1987 | Optische Mikroprofilometrie und Rauheitsmessung | Leonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J. |
1980 | Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystals | Tiziani, Hans J.; Leonhardt, Klaus; Klenk, Jürgen |
1982 | Removing ambiguities in surface roughness measurement | Leonhardt, Klaus; Tiziani, Hans J. |
1983 | Temperature induced deformations in BSO crystals due to photoconductivity | Leonhardt, Klaus; Tiziani, Hans J. |
1985 | Verfahren zur optischen Rauheitsmessung und Mikroprofilometrie | Leonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J. |