1. OPUS

Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1992High precision laser supported close range distance measurementsTiziani, Hans J.
1994High precision optical measurement methodsTiziani, Hans J.
1993High precision optical surface topometryTiziani, Hans J.
1983Holographic interferometry and speckle metrology : a review of the present stateTiziani, Hans J.
1993Holographisch-optische Elemente zur Strahlformung : Teilprojekt A1Haupt, Christoph; Pahlke, Michael; Jäger, Ernst; Tiziani, Hans J.
1980Holography and speckle techniques for real time displacement deformation and vibration analysisTiziani, Hans J.; Klenk, Jürgen; Leonhardt, Klaus
1978Image quality criteria for aerial survey lensesTiziani, Hans J.
1993Interferometry for high resolution absolute distance measuring by larger distancesDalhoff, Ernst; Fischer, Edgar; Kreuz, Silke; Tiziani, Hans J.
1999Iterative nonlinear joint transform correlation for the detection of objects in cluttered scenesHaist, Tobias; Tiziani, Hans J.
1991Kohärent-optische Verfahren in der OberflächenmeßtechnikTiziani, Hans J.
1988Laser application for precision measurementsTiziani, Hans J.
1993Laser speckleTiziani, Hans J.
1987Lasergestützte MeßtechnikTiziani, Hans J.
1973Measurement of small movements and vibrations by laser photographyTiziani, Hans J.
1989Meeting the optical talent needs of industry in EuropeTiziani, Hans J.
1993Micro shape and rough surface analysis by fringe projectionLeonhardt, Klaus; Droste, Ulrich; Schön, Stefan; Voland, Christoph; Tiziani, Hans J.
1991Micro-ellipso-height-profilometryLeonhardt, Klaus; Jordan, Hans-Joachim; Tiziani, Hans J.
1994Microshape and rough-surface analysis by fringe projectionLeonhardt, Klaus; Droste, Ulrich; Tiziani, Hans J.
1989Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-LaserinterferometrieLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1989Modulation transfer function obtained from image structuresLei, Fang; Tiziani, Hans J.
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