1. OPUS

Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
2002Farbkodierte objektangepasste Streifenprojektion für die schnelle 2D- und 3D-QualitätsprüfungHaist, Tobias; Tiziani, Hans J.
1990Fotorefraktive Kristalle und weitere SpeichermedienTiziani, Hans J.
1988Fringe analysis in holography with BSO applicationsTiziani, Hans J.
1992Geometry for contouring by electronic speckle pattern interferometry based on shifting illumination beamsZou, Yunlu; Diao, Hongyan; Peng, Xiang; Tiziani, Hans J.
1986Grundlagenuntersuchung, Entwicklung und Erprobung optischer Sensoren für die Qualitätssicherung und zum Einsatz an Montagerobotern in der flexiblen Montage : Teilprojekt A4Tiziani, Hans J.; Malz, Reinhard; Seitz, Günther; Höller, Frank S.; Bolognini, Nestor
1987Heterodyn-Speckle-Interferometrie zur SchwingungsmessungJahn, Gerald; Tiziani, Hans J.
1992Heterodyne interferometry using two wavelengths for dimensional measurementsTiziani, Hans J.
1992Heterodynverfahren für hochgenaue Vermessung im NahbereichFischer, Edgar; Ittner, Thomas; Sodnik, Zoran; Tiziani, Hans J.
1992High precision laser supported close range distance measurementsTiziani, Hans J.
1994High precision optical measurement methodsTiziani, Hans J.
1993High precision optical surface topometryTiziani, Hans J.
1983Holographic interferometry and speckle metrology : a review of the present stateTiziani, Hans J.
1993Holographisch-optische Elemente zur Strahlformung : Teilprojekt A1Haupt, Christoph; Pahlke, Michael; Jäger, Ernst; Tiziani, Hans J.
1980Holography and speckle techniques for real time displacement deformation and vibration analysisTiziani, Hans J.; Klenk, Jürgen; Leonhardt, Klaus
1978Image quality criteria for aerial survey lensesTiziani, Hans J.
1993Interferometry for high resolution absolute distance measuring by larger distancesDalhoff, Ernst; Fischer, Edgar; Kreuz, Silke; Tiziani, Hans J.
1999Iterative nonlinear joint transform correlation for the detection of objects in cluttered scenesHaist, Tobias; Tiziani, Hans J.
1991Kohärent-optische Verfahren in der OberflächenmeßtechnikTiziani, Hans J.
1988Laser application for precision measurementsTiziani, Hans J.
1993Laser speckleTiziani, Hans J.
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