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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1984
Determination of average roughness and profile autocorrelation width of metallic surfaces with a white light sensor
Leonhardt, Klaus
;
Kaufmann, Ekkehart
;
Tiziani, Hans J.
1990
Oberflächenmesstechnik mit optischen Verfahren
Tiziani, Hans J.
1991
Phase shifting in an oblique incidence interferometer
Boebel, Doris
;
Packroß, Bernd
;
Tiziani, Hans J.
1994
Oblique incidence and observation electronic speckle-pattern interferometry
Joenathan, Charles
;
Franze, Bernhard
;
Tiziani, Hans J.
1994
Microshape and rough-surface analysis by fringe projection
Leonhardt, Klaus
;
Droste, Ulrich
;
Tiziani, Hans J.
1992
Heterodynverfahren für hochgenaue Vermessung im Nahbereich
Fischer, Edgar
;
Ittner, Thomas
;
Sodnik, Zoran
;
Tiziani, Hans J.
1993
High precision optical surface topometry
Tiziani, Hans J.
1989
Optical methods of measuring rough surfaces
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1992
A simplified multi-wavelength ESPI contouring technique based on a diode laser system
Peng, Xiang
;
Zou, Yunlu
;
Diao, Hongyan
;
Tiziani, Hans J.
1991
Schnelle 3-D-Kamera mit adaptierbaren, hochauflösenden Markierungscodes
Malz, Reinhard
;
Tiziani, Hans J.
Facetten
Autor
12
Leonhardt, Klaus
11
Zou, Yunlu
10
Fischer, Edgar
9
Sodnik, Zoran
8
Diao, Hongyan
8
Peng, Xiang
7
Pedrini, Giancarlo
6
Dalhoff, Ernst
6
Ittner, Thomas
6
Lei, Fang
.
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Dokumentart
78
Zeitschriftenartikel
56
Konferenzbeitrag
7
Buchbeitrag
3
Preprint
Erscheinungsdatum
1
2000 - 2002
66
1990 - 1999
56
1980 - 1989
19
1970 - 1979
2
1966 - 1969