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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1980
Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystals
Tiziani, Hans J.
;
Leonhardt, Klaus
;
Klenk, Jürgen
1986
Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6
Tiziani, Hans J.
1991
Optische Verfahren zur Abstands- und Topografiebestimmung
Tiziani, Hans J.
1988
Automatisierung der optischen Qualitätsprüfung
Tiziani, Hans J.
1993
Atmospheric influence on image quality of airborne photographs
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
1988
Anwendung der synthetischen Holografie in der Meßtechnik
Tiziani, Hans J.
1992
Contouring using two-wavelength electronic speckle pattern interferometry employing dual-beam illuminations
Diao, Hongyan
;
Peng, Xiang
;
Zou, Yunlu
;
Tiziani, Hans J.
;
Chen, L.
1994
Three-dimensional image sensing by chromatic confocal microscopy
Tiziani, Hans J.
;
Uhde, Hans-Martin
1994
Three-dimensional analysis by a microlens-array confocal arrangement
Tiziani, Hans J.
;
Uhde, Hans-Martin
1991
Einflüsse der transversalen und longitudinalen Objektbewegung auf die Bildqualität im Nahbereich
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
Facetten
Autor
11
Zou, Yunlu
8
Diao, Hongyan
8
Peng, Xiang
7
Leonhardt, Klaus
5
Lei, Fang
5
Pedrini, Giancarlo
4
Seitz, Günther
3
Beyeler, Bernhard H.
3
Sodnik, Zoran
3
Witz, Werner
.
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Erscheinungsdatum
1
2000 - 2002
34
1990 - 1999
31
1980 - 1989
10
1970 - 1979
2
1966 - 1969