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Erscheinungsdatum
Titel
Autor(en)
1990
Multiple distributions for biased random test patterns
Wunderlich, Hans-Joachim
1990
An analytical approach to the partial scan problem
Kunzmann, Arno
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1990
Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf
Schulz, Michael H.
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1992
The pseudoexhaustive test of sequential circuits
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Hellebrand, Sybille
1991
TESTCHIP: a chip for weighted random pattern generation, evaluation, and test control
Ströle, Albrecht P.
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1992
Prüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter Schaltungen
Wunderlich, Hans-Joachim
;
Schulz, Michael H.
1992
Optimized synthesis techniques for testable sequential circuits
Eschermann, Bernhard
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1988
Output-maximal control policies for cascaded production-inventory systems with control and state constraints
Warschat, Joachim
;
Wunderlich, Hans-Joachim
1984
Time-optimal control policies for cascaded production-inventory systems with control and state constraints
Warschat, Joachim
;
Wunderlich, Hans-Joachim
Facetten
Autor
2
Schulz, Michael H.
2
Warschat, Joachim
1
Eschermann, Bernhard
1
Hellebrand, Sybille
1
Kunzmann, Arno
1
Ströle, Albrecht P.
Erscheinungsdatum
3
1992
1
1991
3
1990
1
1988
1
1984