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dc.contributor.authorTiziani, Hans J.de
dc.date.accessioned2011-02-24de
dc.date.accessioned2016-03-31T08:16:26Z-
dc.date.available2011-02-24de
dc.date.available2016-03-31T08:16:26Z-
dc.date.issued1987de
dc.identifier.other34704851Xde
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61020de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4348-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-4331-
dc.description.abstractDie Laser-Meßtechnik hat in den letzten Jahren Auftrieb erhalten. Der industrielle Einsatz der Verfahren erfordert rechnerunterstützte Auswertemethoden, die in diesem Beitrag beschrieben werden. Anwendungen finden sie in der Interferometrie, Holografie sowie Speckle- und Moiré-Techniken. Die Entwicklung wird weitergehen, dies um so mehr, da immer schnellere und leistungsfähigere Rechner auf den Markt kommen.de
dc.description.abstractProgress has been made in laser metrology. For industrial applications computer aided analysis is often necessary. Methods will be described with applications in interferometry, holography, speckle- und Moire-techniques. Further developments are to be expected because faster and more powerful small computers will be available.en
dc.language.isodede
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationLaser , Speckle-Interferometrie , Qualitätskontrollede
dc.subject.ddc530de
dc.titleRechnerunterstützte Laser-Meßtechnikde
dc.title.alternativeComputer aided laser measurement techniquesen
dc.typearticlede
ubs.fakultaetFakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnikde
ubs.institutInstitut für Technische Optikde
ubs.opusid6102de
ubs.publikation.sourceTechnisches Messen 54 (1987), S. 221-230de
ubs.publikation.typZeitschriftenartikelde
Enthalten in den Sammlungen:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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