A simplified multi-wavelength ESPI contouring technique based on a diode laser system. 2, Automatic fringe analysis

Peng, Xiang; Zou, Yunlu; Pedrini, Giancarlo; Tiziani, Hans J.

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DC Element	Wert	Sprache
dc.contributor.author	Peng, Xiang	de
dc.contributor.author	Zou, Yunlu	de
dc.contributor.author	Pedrini, Giancarlo	de
dc.contributor.author	Tiziani, Hans J.	de
dc.date.accessioned	2011-03-21	de
dc.date.accessioned	2016-03-31T08:16:33Z	-
dc.date.available	2011-03-21	de
dc.date.available	2016-03-31T08:16:33Z	-
dc.date.issued	1993	de
dc.identifier.other	349214964	de
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61953	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4385	-
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-4368	-
dc.description.abstract	A quantitative fringe analyses of interference patterns generated by a multi-wavelength laser diode ESPI contouring system is discussed. The goal is the accurate determination of the topography of an object with steep surface. The phase change related to the surface geometry is calculated with phase-shifting techniques and the results with different contour sensitivities are presented. Some limitations of this ESPI contouring system are also considered from the point of view of practical applications.	en
dc.description.abstract	Eine quantitative Streifenauswertung von Interferogrammen, generiert mit Multiwellenlänge, wird gezeigt. Das Ziel ist eine genaue Bestimmung der Topographie eines Objekts mit steiler Oberfläche. Die Phasenänderungen in Beziehung mit der Oberfläche wurden mit Phasenschiebungstechnik ausgewertet und die Resultate mit verschiedenen Kontour-Empfindlichkeiten werden gezeigt. Einige Beschränkungen dieses ESPI-Kontursystems wurden im Hinblick auf die praktische Anwendung analysiert.	de
dc.language.iso	en	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.subject.classification	Speckle-Interferometrie , Laser	de
dc.subject.ddc	620	de
dc.title	A simplified multi-wavelength ESPI contouring technique based on a diode laser system. 2, Automatic fringe analysis	en
dc.title.alternative	Ein auf dem Laser-Dioden-System basierendes vereinfachtes ESPI-Konturlinienverfahren mit Multiwellenlänge. 2, Automatische Streifenauswertung	en
dc.type	article	de
ubs.fakultaet	Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik	de
ubs.institut	Institut für Technische Optik	de
ubs.opusid	6195	de
ubs.publikation.source	Optik 92 (1993), S. 114-118	de
ubs.publikation.typ	Zeitschriftenartikel	de
Enthalten in den Sammlungen:	07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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