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dc.contributor.authorPedrini, Giancarlode
dc.contributor.authorTiziani, Hans J.de
dc.date.accessioned2011-04-01de
dc.date.accessioned2016-03-31T08:16:41Z-
dc.date.available2011-04-01de
dc.date.available2016-03-31T08:16:41Z-
dc.date.issued1994de
dc.identifier.other366495895de
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-62179de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4435-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-4418-
dc.description.abstractThe double-pulsed speckle interferometry method is very much simpler than the double pulse holographic interferometry and allows a quick analysis of the interferograms without the development of films and hologram reconstructions. It is thus well suited for industrial applications. The system can be extended to determine the three components of the deformation by illuminating the object from three directions and by observing with three cameras. Double-pulsed ESPI can be used to measure rotating objects with an optical derotator which compensates the rotation of the object optically.en
dc.language.isoende
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationSpeckle-Interferometrie , Optische Messtechnikde
dc.subject.ddc620de
dc.titleDouble pulse-electronic speckle interferometryen
dc.typeconferenceObjectde
dc.date.updated2012-06-08de
ubs.fakultaetFakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnikde
ubs.institutInstitut für Technische Optikde
ubs.opusid6217de
ubs.publikation.sourceLaser metrology for precision measurement and inspection in industry : 3. International IMEKO-Symposium, Heidelberg, March 21-22, 1994 / VDI-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik. Düsseldorf : VDI-Verl., 1994 (VDI-Berichte 1118). - ISBN 3-18-091118-2, S. 57-62de
ubs.publikation.typKonferenzbeitragde
Enthalten in den Sammlungen:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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