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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4899
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DC Element | Wert | Sprache |
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dc.contributor.author | Burger, S. | de |
dc.contributor.author | Lassmann, Kurt | de |
dc.contributor.author | Eisenmenger, Wolfgang | de |
dc.date.accessioned | 2009-10-12 | de |
dc.date.accessioned | 2016-03-31T08:35:52Z | - |
dc.date.available | 2009-10-12 | de |
dc.date.available | 2016-03-31T08:35:52Z | - |
dc.date.issued | 1985 | de |
dc.identifier.other | 317994530 | de |
dc.identifier.uri | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-47032 | de |
dc.identifier.uri | http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4916 | - |
dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.18419/opus-4899 | - |
dc.description.abstract | Phonon backscattering experiments with polished silicon surfaces show that there is no Kapitza anomaly at frequencies corresponding to the aluminum junction detector threshold (sim80 GHz), whereas at higher frequencies the anomalous transmission into liquid helium or solid nitrogen increases (reduced backscattering by the coverage), closely related to the increase of the diffuse scattering at the uncovered surface. | en |
dc.language.iso | en | de |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | de |
dc.subject.classification | Silicium , Phononenemission | de |
dc.subject.ddc | 530 | de |
dc.title | Frequency dependence of the specular and diffuse phonon scattering from silicon surfaces | en |
dc.type | article | de |
dc.date.updated | 2010-02-03 | de |
ubs.fakultaet | Fakultät Mathematik und Physik | de |
ubs.institut | 1. Physikalisches Institut | de |
ubs.opusid | 4703 | de |
ubs.publikation.source | Journal of low temperature physics 61 (1985), S. 401-412. URL http://dx.doi.org./10.1007/BF00683693 | de |
ubs.publikation.typ | Zeitschriftenartikel | de |
Enthalten in den Sammlungen: | 08 Fakultät Mathematik und Physik |
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