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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4968
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DC Element | Wert | Sprache |
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dc.contributor.author | Marx, Dieter | de |
dc.contributor.author | Eisenmenger, Wolfgang | de |
dc.date.accessioned | 2010-08-09 | de |
dc.date.accessioned | 2016-03-31T08:36:09Z | - |
dc.date.available | 2010-08-09 | de |
dc.date.available | 2016-03-31T08:36:09Z | - |
dc.date.issued | 1983 | de |
dc.identifier.other | 340316268 | de |
dc.identifier.uri | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-55826 | de |
dc.identifier.uri | http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4985 | - |
dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.18419/opus-4968 | - |
dc.description.abstract | Comparing measurements of high-frequency phonon reflection at the uncovered and optically polished (100)-silicon surface, with calculations considering phonon focusing, reveal complete diffusive scattering with at most 4% specular reflection contribution. Two possible mechanisms causing diffusive scattering are discussed. | en |
dc.language.iso | en | de |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | de |
dc.subject.classification | Phononenemission , Silicium | de |
dc.subject.ddc | 530 | de |
dc.title | Diffusive scattering of high-frequency phonons at free silicon surfaces | en |
dc.type | article | de |
dc.date.updated | 2011-05-17 | de |
ubs.fakultaet | Fakultät Mathematik und Physik | de |
ubs.institut | 1. Physikalisches Institut | de |
ubs.opusid | 5582 | de |
ubs.publikation.source | Physics Letters, A 93 (1983), S. 152-154. URL http://dx.doi.org./10.1016/0375-9601(83)90080-4 | de |
ubs.publikation.typ | Zeitschriftenartikel | de |
Enthalten in den Sammlungen: | 08 Fakultät Mathematik und Physik |
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