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Autor(en): Kesel, Frank
Wunderlich, Hans-Joachim
Titel: Automatische Synthese selbsttestbarer Moduln für hochkomplexe Schaltungen
Erscheinungsdatum: 1989
Dokumentart: Konferenzbeitrag
Erschienen in: Mikroelektronik für die Informationstechnik 1989 : vom 3. bis 5. Oktober 1989 in Stuttgart. Berlin : VDE-Verl., 1989 (ITG-Fachbericht 110), S. 63-68
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73336
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7950
http://dx.doi.org/10.18419/opus-7933
Zusammenfassung: Für den Test hochkomplexer digitaler Schaltungen bieten sich Selbsttestverfahren an, die auf multifunktionalen linear rückgekoppelten Schieberegistern beruhen. Diese erzeugen Pseudozufallsmuster und komprimieren die Testantworten zu einer Signatur. Durch einen automatischen Einbau der Selbsttestausstattung kann die Korrektheit des Entwurfs gewährleistet werden. Im vorliegenden Beitrag wird ein Verfahren vorgestellt, mit welchem sich multifunktionale Registerschaltungen automatisch synthetisieren lassen, welche gleich- und ungleichverteilte Pseudozufallsmuster erzeugen und die Testantworten durch Signaturanalyse komprimieren. Sie werden als Standardzellen erzeugt und können automatisch plaziert und verdrahtet werden.
Enthalten in den Sammlungen:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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