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Scanning single-electron transistor array microscope to probe a two-dimensional electron system under quantum Hall conditions below 40 milli-Kelvin | 1095 |
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Scanning single-electron transistor array microscope to probe a two-dimensional electron system under quantum Hall conditions below 40 milli-Kelvin | 9 | 8 | 23 | 132 | 5 | 6 | 7 |
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Deutschland | 424 |
Vereinigte Staaten | 305 |
China | 86 |
Vereinigtes Königreich | 74 |
Frankreich | 51 |
Kanada | 16 |
Singapur | 10 |
Russland | 9 |
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