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dc.contributor.advisorWeis, Jürgen (Prof. Dr.)-
dc.contributor.authorRommel, Marcus-
dc.date.accessioned2018-07-12T12:48:20Z-
dc.date.available2018-07-12T12:48:20Z-
dc.date.issued2018de
dc.identifier.other507621204-
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-99402de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/9940-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-9923-
dc.description.abstractDissertation zum Thema Hochauflösende Elektronen Strahl Lithographie mit Fokus auf den Einfluss schneller Sekundärelektronen auf den Proximity Effekt, sowie die Entwicklung von Prozessen zur Herstellung großer Flächen dicht gepackter Strukturen mit sub-10 nm Auflösung.de
dc.language.isoende
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.ddc530de
dc.titleHigh resolution electron beam lithography : an improved understanding of a versatile lithography techniqueen
dc.typedoctoralThesisde
ubs.dateAccepted2018-03-22-
ubs.fakultaetExterne wissenschaftliche Einrichtungende
ubs.institutMax-Planck-Institut für Festkörperforschungde
ubs.publikation.seitenx, 156, 1de
ubs.publikation.typDissertationde
ubs.thesis.grantorMathematik und Physikde
Enthalten in den Sammlungen:08 Fakultät Mathematik und Physik

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