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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4087
| Autor(en): | Rieber, Jochen M. Allgöwer, Frank Stemmer, Andreas |
| Titel: | Schneller sehen durch Regelungstechnik - Moderne Bildgebung in der Nanotechnologie |
| Erscheinungsdatum: | 2004 |
| Dokumentart: | Zeitschriftenartikel |
| Erschienen in: | Wechselwirkungen, Jahrbuch aus Lehre und Forschung der Universität Stuttgart (2004), S. 101-109 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-29264 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4104 http://dx.doi.org/10.18419/opus-4087 |
| Zusammenfassung: | Die Nanotechnologie, also die Wissenschaft von Untersuchungen und Manipulationen im Nanometermaßstab, wird als eine der Schlüsseltechnologien des 21. Jahrhunderts angesehen. Wichtige Komponenten dieses aktuellen Forschungszweiges sind das Rastertunnelmikroskop und das Rasterkraftmikroskop, die den Blick in die Nanowelt erlauben. Dieser Artikel gibt einen einführenden Einblick in die Bildgebung der Nanowelt und versucht, den Beitrag von Systemtheorie und Regelungstechnik für die Nanotechnologie anhand der Regelung von Rasterkraftmikroskopen allgemeinverständlich zu beschreiben. |
| Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
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