Browsing by Author "Stern, Olaf"

Filter results by typing the first few letters
Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    ItemOpen Access
    Erfassung und Modellierung komplexer Funktionsfehler in Mikroelektronik-Bauelementen
    (1992) Stern, Olaf; Wunderlich, Hans-Joachim
    Es wird ein Verfahren vorgestellt, das für die Grundzellen einer Zellbibliothek layoutabhängig die möglichen Fehlfunktionen bestimmt, die durch Fertigungsfehler verursacht werden können. Eingabe für das Verfahren sind neben dem Layout einer Zelle die Prozeßparameter und die Defektverteilungen, Ausgabe sind die realistischen Fehlfunktionen mit ihren Auftrittswahrscheinlichkeiten. Damit können Testerzeugung und Testablauf beschleunigt, schwer testbare Fehler bestimmt und ihre Ursachen lokalisiert und beseitigt werden.
  • Thumbnail Image
    ItemOpen Access
    Simulation results of an efficient defect analysis procedure
    (1994) Stern, Olaf; Wunderlich, Hans-Joachim
    For obtaining a zero defect level, a high fault coverage with respect to the stuck-at fault model is often not sufficient as there are many defects that show a more complex behavior. In this paper, a method is presented for computing the occurrence probabilities of certain defects and the realistic fault coverage for test sets. The method is highly efficient as a pre-processing step is used for partitioning the layout and extracting the defects ranked in the order of their occurrence probabilities. The method was applied to a public domain library where defects causing a complex faulty behavior are possible. The occurrence probability of these faults was computed, and the defect coverage for different test sets was determined.