Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1990Oberflächenmesstechnik mit optischen VerfahrenTiziani, Hans J.
1986Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6Tiziani, Hans J.
1994Oblique incidence and observation electronic speckle-pattern interferometryJoenathan, Charles; Franze, Bernhard; Tiziani, Hans J.
1984On the application of synthetic holograms for testing aspheric surfacesTiziani, Hans J.; Dörband, Bernd
1992On the measurement of image disturbance in aerial photographyTiziani, Hans J.
1989Optical 3-D-measurement techniques : a surveyTiziani, Hans J.
1998Optical detection of random features for high security applicationsHaist, Tobias; Tiziani, Hans J.
1989Optical methods for precision measurementsTiziani, Hans J.
1993Optical methods for surface measurements : state of the artTiziani, Hans J.
1986Optical methods in engineering measurementsTiziani, Hans J.
1989Optical methods of measuring rough surfacesLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1993Optical techniques for shape measurementsTiziani, Hans J.
1993Optische Interferometrie in der MeßtechnikTiziani, Hans J.
1972Optische Methoden zur Schwingungsanalyse der Stimmgabel einer elektronischen UhrTiziani, Hans J.
1987Optische Mikroprofilometrie und RauheitsmessungLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1992Optische und optoelektronische Verfahren zur dimensionellen VermessungTiziani, Hans J.
1976Die optische Ühertragungsfunktion von dezentrierten optischen SystemenBeyeler, Bernhard H.; Tiziani, Hans J.
1991Optische Verfahren zur Abstands- und TopografiebestimmungTiziani, Hans J.
1970Opto-electronic pattern recognition systemTiziani, Hans J.; Beyeler, Bernhard H.; Witz, Werner
1991Phase shifting in an oblique incidence interferometerBoebel, Doris; Packroß, Bernd; Tiziani, Hans J.