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Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.
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Autor(en)
1990
Oberflächenmesstechnik mit optischen Verfahren
Tiziani, Hans J.
1986
Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6
Tiziani, Hans J.
1994
Oblique incidence and observation electronic speckle-pattern interferometry
Joenathan, Charles
;
Franze, Bernhard
;
Tiziani, Hans J.
1984
On the application of synthetic holograms for testing aspheric surfaces
Tiziani, Hans J.
;
Dörband, Bernd
1992
On the measurement of image disturbance in aerial photography
Tiziani, Hans J.
1989
Optical 3-D-measurement techniques : a survey
Tiziani, Hans J.
1998
Optical detection of random features for high security applications
Haist, Tobias
;
Tiziani, Hans J.
1989
Optical methods for precision measurements
Tiziani, Hans J.
1993
Optical methods for surface measurements : state of the art
Tiziani, Hans J.
1986
Optical methods in engineering measurements
Tiziani, Hans J.
1989
Optical methods of measuring rough surfaces
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1993
Optical techniques for shape measurements
Tiziani, Hans J.
1993
Optische Interferometrie in der Meßtechnik
Tiziani, Hans J.
1972
Optische Methoden zur Schwingungsanalyse der Stimmgabel einer elektronischen Uhr
Tiziani, Hans J.
1987
Optische Mikroprofilometrie und Rauheitsmessung
Leonhardt, Klaus
;
Rippert, Karl-Heinz
;
Tiziani, Hans J.
1992
Optische und optoelektronische Verfahren zur dimensionellen Vermessung
Tiziani, Hans J.
1976
Die optische Ühertragungsfunktion von dezentrierten optischen Systemen
Beyeler, Bernhard H.
;
Tiziani, Hans J.
1991
Optische Verfahren zur Abstands- und Topografiebestimmung
Tiziani, Hans J.
1970
Opto-electronic pattern recognition system
Tiziani, Hans J.
;
Beyeler, Bernhard H.
;
Witz, Werner
1991
Phase shifting in an oblique incidence interferometer
Boebel, Doris
;
Packroß, Bernd
;
Tiziani, Hans J.