1. OPUS

Auflistung nach Autor Wunderlich, Hans-Joachim

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1991A common approach to test generation and hardware verification based on temporal logicKropf, Thomas; Wunderlich, Hans-Joachim
1994Configuring flip-flops to BIST registersStröle, Albrecht P.; Wunderlich, Hans-Joachim
1985Design automation of random testable circuitsKunzmann, Arno; Wunderlich, Hans-Joachim
1989The design of random-testable sequential circuitsWunderlich, Hans-Joachim
1990The effectiveness of different test sets for PLAsMaxwell, Peter C.; Wunderlich, Hans-Joachim
1994An efficient procedure for the synthesis of fast self-testable controller structuresHellebrand, Sybille; Wunderlich, Hans-Joachim
1992Efficient test set evaluationWunderlich, Hans-Joachim; Warnecke, Maren
1991Emulation of scan paths in sequential circuit synthesisEschermann, Bernhard; Wunderlich, Hans-Joachim
1992Erfassung und Modellierung komplexer Funktionsfehler in Mikroelektronik-BauelementenStern, Olaf; Wunderlich, Hans-Joachim
1990Error masking in self-testable circuitsStröle, Albrecht P.; Wunderlich, Hans-Joachim
1988Generating pattern sequences for the pseudo-exhaustive test of MOS-circuitsWunderlich, Hans-Joachim; Hellebrand, Sybille
1990Generating pseudo-exhaustive vectors for external testingHellebrand, Sybille; Wunderlich, Hans-Joachim; Haberl, Oliver F.
1988Integrated tools for automatic design for testabilitySchmid, Detlef; Wunderlich, Hans-Joachim; Feldbusch, Fridtjof; Hellebrand, Sybille; Holzinger, Jürgen; Kunzmann, Arno
1986The integration of test and high level synthesis in a general design environmentSchmid, Detlef; Camposano, Raúl; Kunzmann, Arno; Rosenstiel, Wolfgang; Wunderlich, Hans-Joachim
1991Maximizing the fault coverage in complex circuits by minimal number of signaturesWunderlich, Hans-Joachim; Ströle, Albrecht P.
1989Methoden der TestvorbereitungWunderlich, Hans-Joachim; Schulz, Michael H.
1990Methoden der Testvorbereitung zum IC-EntwurfSchulz, Michael H.; Wunderlich, Hans-Joachim
1988Multiple distributions for biased random test patternsWunderlich, Hans-Joachim
1990Multiple distributions for biased random test patternsWunderlich, Hans-Joachim
1987On computing optimized input probabilities for random testsWunderlich, Hans-Joachim
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