Auflistung nach Autor Wunderlich, Hans-Joachim

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1988Generating pattern sequences for the pseudo-exhaustive test of MOS-circuitsWunderlich, Hans-Joachim; Hellebrand, Sybille
1990Generating pseudo-exhaustive vectors for external testingHellebrand, Sybille; Wunderlich, Hans-Joachim; Haberl, Oliver F.
1988Integrated tools for automatic design for testabilitySchmid, Detlef; Wunderlich, Hans-Joachim; Feldbusch, Fridtjof; Hellebrand, Sybille; Holzinger, Jürgen; Kunzmann, Arno
1986The integration of test and high level synthesis in a general design environmentSchmid, Detlef; Camposano, Raúl; Kunzmann, Arno; Rosenstiel, Wolfgang; Wunderlich, Hans-Joachim
1991Maximizing the fault coverage in complex circuits by minimal number of signaturesWunderlich, Hans-Joachim; Ströle, Albrecht P.
1989Methoden der TestvorbereitungWunderlich, Hans-Joachim; Schulz, Michael H.
1990Methoden der Testvorbereitung zum IC-EntwurfSchulz, Michael H.; Wunderlich, Hans-Joachim
1988Multiple distributions for biased random test patternsWunderlich, Hans-Joachim
1990Multiple distributions for biased random test patternsWunderlich, Hans-Joachim
1987On computing optimized input probabilities for random testsWunderlich, Hans-Joachim
1986On fault modeling for dynamic MOS circuitsWunderlich, Hans-Joachim; Rosenstiel, Wolfgang
1990Optimized synthesis of self-testable finite state machinesEschermann, Bernhard; Wunderlich, Hans-Joachim
1992Optimized synthesis techniques for testable sequential circuitsEschermann, Bernhard; Wunderlich, Hans-Joachim
1988Output-maximal control policies for cascaded production-inventory systems with control and state constraintsWarschat, Joachim; Wunderlich, Hans-Joachim
1991Parallel self-test and the synthesis of control unitsEschermann, Bernhard; Wunderlich, Hans-Joachim
1989Parametrisierte Speicherzellen zur Unterstützung des Selbsttests mit optimierten und konventionellen ZufallsmusternKesel, Frank; Wunderlich, Hans-Joachim
1987Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter SchaltungenWunderlich, Hans-Joachim
1985Protest: a tool for probabilistic testability analysisWunderlich, Hans-Joachim
1992Prüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter SchaltungenWunderlich, Hans-Joachim; Schulz, Michael H.
1989The pseudo-exhaustive test of sequential circuitsWunderlich, Hans-Joachim; Hellebrand, Sybille