1. OPUS

Auflistung nach Institut Institut für Technische Optik

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1991Kohärent-optische Verfahren in der OberflächenmeßtechnikTiziani, Hans J.
1988Laser application for precision measurementsTiziani, Hans J.
1993Laser speckleTiziani, Hans J.
1987Lasergestützte MeßtechnikTiziani, Hans J.
2020Mass-producible micro-optical elements by injection compression molding and focused ion beam structured titanium molding toolsRistok, Simon; Roeder, Marcel; Thiele, Simon; Hentschel, Mario; Guenther, Thomas; Zimmermann, André; Herkommer, Alois; Giessen, Harald
1989Meeting the optical talent needs of industry in EuropeTiziani, Hans J.
2020Methoden zur selbstkalibrierenden Vermessung von Asphären und Freiformen in der Tilted-Wave-InterferometrieSchindler, Johannes
1993Micro shape and rough surface analysis by fringe projectionLeonhardt, Klaus; Droste, Ulrich; Schön, Stefan; Voland, Christoph; Tiziani, Hans J.
1991Micro-ellipso-height-profilometryLeonhardt, Klaus; Jordan, Hans-Joachim; Tiziani, Hans J.
1994Microshape and rough-surface analysis by fringe projectionLeonhardt, Klaus; Droste, Ulrich; Tiziani, Hans J.
1989Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-LaserinterferometrieLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1989Modulation transfer function obtained from image structuresLei, Fang; Tiziani, Hans J.
2023Needle-based electrical impedance imaging technology for needle navigationLiu, Jan; Atmaca, Ömer; Pott, Peter Paul
1983Neue Entwicklungen der berührungslosen optischen MeßverfahrenTiziani, Hans J.
1986Eine neue Methode zur Bestimmung der MTF aus dem KantenbildLei, Fang; Tiziani, Hans J.
1987New light valve based in photoinduced space charge fields in BSO-crystalsTiziani, Hans J.; Höller, Frank S.
1988Nondestructive evaluation of solids by photothermal interferometry on nonreflective surfacesSodnik, Zoran; Tiziani, Hans J.
1992A novel approach to determine decorrelation effect in a dual-beam electronic speckle pattern interferometerPeng, Xiang; Diao, Hongyan; Zou, Yunlu; Tiziani, Hans J.
1990Oberflächenmesstechnik mit optischen VerfahrenTiziani, Hans J.
1986Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6Tiziani, Hans J.
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