Universität Stuttgart
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Item Open Access Zukunft der Optik(1970) Tiziani, Hans J.Die Optik hat in den letzten Jahren neuen Aufschwung genommen. Mitverantwortlich für diese Entwicklung sind sowohl die Verwendung von leistungsfähigen Computern als auch die Nachfrage nach immer besserer Auflösung und Bildqualität. Besonders positiv haben sich die Entwicklungen des Laser (1960) und der Holographie ausgewirkt. Immer neue Applikationen des gebündelten, kohärenten Laserlichtes werden erschlossen, doch will ich mich in diesem Zusammenhang auf die mögliche Weiterentwlckung der erwähnten Gebiete beschränken.Item Open Access A study of the use of laser speckle to measure small tilts of optically rough surfaces accurately(1972) Tiziani, Hans J.A new method is proposed where small tilts can be measured with high accuracy even in the presence of a lateral shift. For this purpose the speckling of the object, an optically rough surface, is recorded in the Fourier plane before and after a tilt. By illuminating the developed plate with a laser, fringeswith spacings inversely proportional to the tilt angle can be observed.Item Open Access Speckleverfahren zur absoluten Abstandsmessung(1987) Hege, Günter; Tiziani, Hans J.Eine ausführliche Untersuchung möglicher Speckleverfahren zur absoluten Abstandsmessung von rauhen Oberflächen hat gezeigt, daß eine axiale Auflösung im Submikrometerbereich nur durch Auswerten der lateralen Specklegeschwindigkeit möglich ist. Hierzu wird bei ruhendem Objekt ein fokussierter Laserstrahl akustooptisch um 0,2 mm periodisch ausgelenkt. Die entstehende Specklebewegung wird von einem Gittersensor erfaßt und von einem Zählprozessor bewertet.Item Open Access Berührungslose optische Echtzeitmesstechnik(1983) Tiziani, Hans J.Es wird über einige Messverfahren der berührungslosen optischen Messtechnik berichtet. Neben dem Einsatz von synthetischen Hologrammen zum Formenvergleich von asphärischen Flächen werden Messverfahren zur Verformungs- und Schwingungsmessung vorgestellt. Der Einsatz fotorefraktiver Kristalle steht noch am Anfang. Verschiedene Anwendungen mit dem BSO-Kristallspeicher werden kurz diskutiert, wie holografische Interferometrie, Konturlinien-Holografie, Speckle-Anwendungen und optische Korrelation. Am Ende wird auch gezeigt, wie eine Dopplershift-Technik zur Geschwindigkeits- und Schwingungsmessung eingesetzt werden kann. Die Ergebnisse werden verglichen mit denen der Doppelpulsholografie.Item Open Access Einige Bemerkungen zur holographischen Meßmethode der optischen Übertragungsfunktion(1972) Tiziani, Hans J.; Aemmer, Adolf H.Die holographische Methode zur Messung optischer Übertragungslfunktionen, 1966 postuliert, wird von einer plankonvexen Linse, die nach den Spezifikationen der 50 mm TestIinse der "SIRA" hergestellt wurde, untersucht. Vor allem wird der Einfluß von Fehlerquellen wie mechanische Instabilitäten und Nichtlinearität der Transparenzfunktion der Photoplatte analysiert. Es werden die experimentell gewonnenen Resultate mit berechneten Funktionen verglichen, die simulierte Abweichungen enthalten.Item Open Access A novel approach to determine decorrelation effect in a dual-beam electronic speckle pattern interferometer(1992) Peng, Xiang; Diao, Hongyan; Zou, Yunlu; Tiziani, Hans J.An intrinsic decorrelation effect in a dual-beam ESPI system for contouring application is quantified by simple image processing techniques incorporating experimental data of speckle patterns. Practical limits for the range of application on contouring an object are also considered from the point of view of automatic fringe analysis. An acceptable degree of decorrelation due to the tilt of illuminating beams has been established.Item Open Access Real time metrology with BSO crystals(1982) Tiziani, Hans J.Electro-optical crystals are used for real-time holography, optical data storage, optical information processing and more recently for speckle applications. Many ferro-electric materials were investigated, the Bi12 SiO20 (BSO), a cubic, para-electric and electro-optic material was found to be very useful for real-time holographic interferometry and speckle applications. For the application of the BSO in real-time metrology, the crystals is usually biased with a transverse electric field in the 110 or 100 crystallographic direction. Illuminating the crystal with spatially structured information in the 110 direction as a result of a hologram or speckle pattern, a space charge field is built up, leading to a refractive index variation in the crystal. Double-exposure techniques and time average exposure will be presented for real-time deformation displacement and vibration analysis and for contour line holography using a two-wavelengths method. Young's fringes of double-exposed, or in the time-average recorded speckle patterns will be attractive for real-time deformation displacement and vibration analysis.Item Open Access Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystals(1980) Tiziani, Hans J.; Leonhardt, Klaus; Klenk, JürgenStorage of speckle pattern in real time by means of Bi12SiO20-crystals will be reported. Applying the double exposure technique, deformations, displacements as well as tilts can be analysed. The novel speckle technique displays the Young-interference fringes in quasi real time.Item Open Access Application of interferometry and holography for precision measurements(1984) Tiziani, Hans J.Phase measurement techniques are becoming a useful tool for precision measurements. Spatial as well as temporal phase shift methods can be used. Optical testing, where computer analysis of interference fringes is becoming increasing important, will be discussed in connection with testing optical components, microprofiles as well as for testing aspheric surfaces. In addition, methods using heterodyne techniques and real time holography will be described.Item Open Access Anwendung der synthetischen Holografie in der Meßtechnik(1988) Tiziani, Hans J.Ein wichtiges Einsatzgebiet ist die Prüfung asphärischer Flächen mit computergenerierten Hologrammen. Darüber wird in diesem Beitrag besonders berichtet. Asphärische Flächen werden zunehmend in optischen Geräten und Systemen zur Realisierung extremer Eigenschaften bezüglich Öffnungsverhältnis und Abbildungsfehlerkorrektur verwendet. Die Herstellung derartiger Flächen erfordert zwangsläufig ein Meßgerät, das eine Qualitätskontrolle der erreichten Flächenform mit Genauigkeiten von 0,1 μm und besser ermöglicht. Die geforderten Genauigkeiten liefern interferometrische Meßmethoden, die außerdem eine visuelle und quantitative Beurteilung der gesamten Fläche erlauben.