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Subject: search.filters.subject.530Start date: 1989Institute: search.filters.UBSInstitut.Institut für Technische Optik

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    Tailored nanocomposites for 3D printed micro-optics
    (2020) Weber, Ksenia; Werdehausen, Daniel; König, Peter; Thiele, Simon; Schmid, Michael; Decker, Manuel; Oliveira, Peter William de; Herkommer, Alois; Giessen, Harald
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    A novel approach to determine decorrelation effect in a dual-beam electronic speckle pattern interferometer
    (1992) Peng, Xiang; Diao, Hongyan; Zou, Yunlu; Tiziani, Hans J.
    An intrinsic decorrelation effect in a dual-beam ESPI system for contouring application is quantified by simple image processing techniques incorporating experimental data of speckle patterns. Practical limits for the range of application on contouring an object are also considered from the point of view of automatic fringe analysis. An acceptable degree of decorrelation due to the tilt of illuminating beams has been established.
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    Mass-producible micro-optical elements by injection compression molding and focused ion beam structured titanium molding tools
    (2020) Ristok, Simon; Roeder, Marcel; Thiele, Simon; Hentschel, Mario; Guenther, Thomas; Zimmermann, André; Herkommer, Alois; Giessen, Harald
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    Optische Phänomene in Natur und Alltag
    (2018) Haist, Tobias
    Dieses eBook soll Ihnen helfen, optische Phänomene in Natur und Alltag zu sehen und diese zu verstehen. Es ist als Begleitung (Skript) zur Vorlesung "Optische Phänomene" am Institut für Technische Optik der Universität Stuttgart entstanden. Hauptzielgruppe sind daher Studenten der Physik, des Maschinenbaus und des Studium Generale.
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    Interlaboratory comparison measurements of aspheres
    (2018) Schachtschneider, R.; Fortmeier, I.; Stavridis, M.; Asfour, J.; Berger, G.; Bergmann, R. B.; Beutler, A.; Blümel, T.; Klawitter, H.; Kubo, K.; Liebl, J.; Löffler, F.; Meeß, R.; Pruß, Christof; Ramm, D.; Sandner, M.; Schneider, G.; Wendel, M.; Widdershoven, I.; Schulz, M.; Elster, C.
    The need for high-quality aspheres is rapidly growing, necessitating increased accuracy in their measurement. A reliable uncertainty assessment of asphere form measurement techniques is difficult due to their complexity. In order to explore the accuracy of current asphere form measurement techniques, an interlaboratory comparison was carried out in which four aspheres were measured by eight laboratories using tactile measurements, optical point measurements, and optical areal measurements. Altogether, 12 different devices were employed. The measurement results were analysed after subtracting the design topography and subsequently a best-fit sphere from the measurements. The surface reduced in this way was compared to a reference topography that was obtained by taking the pointwise median across the ensemble of reduced topographies on a 1000×1000 Cartesian grid. The deviations of the reduced topographies from the reference topography were analysed in terms of several characteristics including peak-to-valley and root-mean-square deviations. Root-mean-square deviations of the reduced topographies from the reference topographies were found to be on the order of some tens of nanometres up to 89 nm, with most of the deviations being smaller than 20 nm. Our results give an indication of the accuracy that can currently be expected in form measurements of aspheres.
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    Depth from axial differential perspective
    (2022) Faulhaber, Andreas; Krächan, Clara; Haist, Tobias
    We introduce an imaging-based passive on-axis technique for measuring the distance of individual objects in complex scenes. Two axially separated pupil positions acquire images (can be realized simultaneously or sequentially). Based on the difference in magnification for objects within the images, the distance to the objects can be inferred. The method avoids some of the disadvantages of passive triangulation sensors (e.g., correspondence, shadowing), is easy to implement and offers high lateral resolution. Due to the principle of operation it is especially suited for applications requiring only low to medium axial resolution. Theoretical findings, as well as follow-up experimental measurements, show obtainable resolutions in the range of few centimeters for distances of up to several meters.
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    High precision laser supported close range distance measurements
    (1992) Tiziani, Hans J.
    Optical methods become useful tools for dimensional measurements. Methods based on triangulation, time of flight, phase measurements and interferometry are used and will be further developed. Multiple wavelength interferometry allows the reduction of the sensitivity by a range extension leading to robust measuring systems. Superheterodyne interferometric techniques based on two wavelength heterodyne interferometry will also be discussed and experimental results will be shown.
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    Mikro-Profilometrie zur Bestimmung der Topographie und Rauheit technischer Oberflächen mittels Heterodyn-Laserinterferometrie
    (1989) Leonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
    Ein Heterodyn-Profilometer zur Messung der Rauheit polierter und feingeschliffener Oberflächen und zur Formmessung wird beschrieben. Die Vertikal- oder Höhenauflösung liegt bei 0,5 nm, der Meßbereich für Formmessungen an glatten Oberflächen bei 40 pm bei einer maximalen Abtastlänge von 300 mm. Die Lateralauflösung kann je nach Aperturausleuchtung bis zu 0,5 pm eingestellt werden. Anwendungen und Grenzen werden gezeigt, Formeln zur Lateralauflösung und zur Erfassung von Phasensprüngen sowie Profilhöhen-Übertragungsfunktionen werden diskutiert.
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    Optische Interferometrie in der Meßtechnik
    (1993) Tiziani, Hans J.
    Die Interferometrie ist ein wichtiges und vielseitiges Werkzeug für die Präzisionsmeßtechnik geworden. Dazu haben die Enwicklung des Lasers als kohärente Lichtquelle und die Methoden der automatischen Streifenauswertung wesentlich beigetragen. Sie tragen einen entscheidenden Anteil am Erfolg beim industriellen Einsatz der Verfahren. Hochauflösende CCD-Arrays, aber auch die rasante Entwicklung von leistungsfähigen Kleinrechnern machen den Einsatz der laseroptischen Verfahren attraktiv. Mehr Information kann aus den Interferogrammen entnommen werden, was zu größeren Meßbereichen und Meßgenauigkeiten führt. Interferometrische Verfahren sind einsatzbar zur hochgenauen Streckenvermessung bzw. der Messung von Verschiebungen bis 50 m und zur Mikrostrukturvermessung mit Auslösungen im Bereich von Nanometern und besser. Interferometrie bietet sich auch zur Qualitätssicherung und Oberflächenvermessung an, aber auch in der Spektroskopie und zur Geschwindigkeitsmessung.