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dc.contributor.authorWagner, Stefan-
dc.date.accessioned2021-11-23T15:26:44Z-
dc.date.available2021-11-23T15:26:44Z-
dc.date.issued2006de
dc.identifier.isbn978-1-59593-399-7-
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-118065de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/11806-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-11789-
dc.description.abstractThere are various ways to evaluate defect-detection techniques. However, for a comprehensive evaluation the only possibility is to reduce all influencing factors to costs. There are already some models and metrics for the cost of quality that can be used in that context. These models allow the structuring of the costs but do not show all influencing factors and their relationships. This paper proposes an analytical model for the economics of defect-detection techniques that can be used for analysis and optimisation of the usage of such techniques. In particular we analyse the sensitivity of the model and how the model can be applied in practice.en
dc.language.isoende
dc.relation.uridoi:10.1145/1137702.1137716de
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.ddc004de
dc.titleModelling the quality economics of defect-detection techniquesen
dc.typeconferenceObjectde
ubs.fakultaetInformatik, Elektrotechnik und Informationstechnikde
ubs.fakultaetFakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtungde
ubs.institutInstitut für Software Engineeringde
ubs.institutFakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtungde
ubs.konferenznameInternational Workshop on Software Quality (4th, 2006, Shanghai)de
ubs.publikation.noppnyesde
ubs.publikation.sourceWoSQ '06: Proceedings of the 2006 international workshop on Software quality, May 2006. New York, NY : ACM, 2006. - ISBN 978-1-59593-399-7, S. 69-74de
ubs.publikation.typKonferenzbeitragde
Enthalten in den Sammlungen:05 Fakultät Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik

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