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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1994A unified method for assembling global test schedulesStröle, Albrecht P.; Wunderlich, Hans-Joachim
1992Erfassung und Modellierung komplexer Funktionsfehler in Mikroelektronik-BauelementenStern, Olaf; Wunderlich, Hans-Joachim
1991Emulation of scan paths in sequential circuit synthesisEschermann, Bernhard; Wunderlich, Hans-Joachim
1991Maximizing the fault coverage in complex circuits by minimal number of signaturesWunderlich, Hans-Joachim; Ströle, Albrecht P.
1990Error masking in self-testable circuitsStröle, Albrecht P.; Wunderlich, Hans-Joachim
1990Optimized synthesis of self-testable finite state machinesEschermann, Bernhard; Wunderlich, Hans-Joachim
1990Tools and devices supporting the pseudo-exhaustive testHellebrand, Sybille; Wunderlich, Hans-Joachim
1990The effectiveness of different test sets for PLAsMaxwell, Peter C.; Wunderlich, Hans-Joachim

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