In-field structural methods for end-to-end automotive digital diagnosis

Abstract

The automotive domain has strongly relied on recent advances in semiconductor technology in order to offer customers a huge amount of appealing features of overwhelming complexity. As traditional functional tests are no longer sufficient to fulfill automotive diagnostic requirements, the analysis of automotive semiconductor failures has become a major quality concern. Semiconductor structural test solutions are already key technologies for the successful manufacturing of any integrated circuit. However, these techniques place stringent constraints on the test application process, which cannot be easily enforced outside the manufacturing environment. The methods and algorithms in this dissertation enable the introduction of structural test and diagnostic solutions into the failure analysis process of the automotive industry.

Die Fahrzeugtechnik nutzt die aktuellen Entwicklungen der Halbleiterindustrie, um Kunden eine enorme Anzahl ansprechender, komplexer Produkteigenschaften zu bieten. Da traditionelle, funktionale Testverfahren nicht mehr ausreichen, um den diagnostischen Anforderungen im Automobilbereich gerecht zu werden, wird die Analyse von Halbleiterdefekten zu einem wichtigen Aspekt der Qualitätssicherung. Strukturelle Testverfahren stellen bereits eine Schlüsseltechnologie für die erfolgreiche Herstellung integrierter Schaltungen dar. Da dieses Vorgehen jedoch strenge Vorgaben bezüglich der Testanwendung mit sich bringt, kann es nicht problemlos außerhalb der Chipherstellung zum Erreichen einer angemessenen diagnostischen Lösung im Automobilbereich eingesetzt werden. Die Methoden und Algorithmen in dieser Dissertation ermöglichen die Einführung struktureller Test- und Diagnoseverfahren bei der Fehleranalyse im Bereich der Fahrzeugtechnik.