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dc.contributor.authorTiziani, Hans J.de
dc.contributor.authorKlenk, Jürgende
dc.date.accessioned2011-02-21de
dc.date.accessioned2016-03-31T08:16:21Z-
dc.date.available2011-02-21de
dc.date.available2016-03-31T08:16:21Z-
dc.date.issued1981de
dc.identifier.other346916526de
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60737de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4323-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-4306-
dc.description.abstractVibration analysis in quasi-real time is studied by recording the time-averaged speckle pattern in a bismuth silicon oxide crystal (Bi12SiO20). When the crystal is illuminated with a spherical wave, the spatially structured information from the time-averaged speckle pattern leads to fringes in the Fraunhofer plane. No storage device is required when the appropriate wavelength is chosen for writing and reading out the information. Experimental results will be presented together with a comparison of measurements obtained with a Doppler shift vibrometer.en
dc.language.isoende
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationSpeckle-Interferometrie , Schwingungde
dc.subject.ddc530de
dc.titleVibration analysis by speckle techniques in real timeen
dc.typearticlede
ubs.fakultaetFakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnikde
ubs.institutInstitut für Technische Optikde
ubs.opusid6073de
ubs.publikation.sourceApplied optics 20 (1981), S. 1467-1470. URL http://dx.doi.org./10.1364/AO.20.001467de
ubs.publikation.typZeitschriftenartikelde
Enthalten in den Sammlungen:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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