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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4321
Autor(en): | Tiziani, Hans J. |
Titel: | Current state of optical testing |
Erscheinungsdatum: | 1987 |
Dokumentart: | Konferenzbeitrag |
Erschienen in: | Creath, Katherine (Hrsg.): Surface characterization and testing. Bellingham, Wash. : SPIE, 1987 (Proceedings / SPIE 680). - ISBN 0-89252-715-3, S. 2-9 |
URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60946 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4338 http://dx.doi.org/10.18419/opus-4321 |
Zusammenfassung: | Basic interferometry and holographic interferometry are becoming useful tools for precision measurements. The use of electronic solid state detector arrays, together with small computers for extracting the information from the interferograms improve their applications. Computer analysis is becoming increasingly important. A lot of information can be extracted from the interferograms leading to higher sensitivities and accuracies. |
Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
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