Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: http://dx.doi.org/10.18419/opus-4330
Autor(en): Sodnik, Zoran
Tiziani, Hans J.
Titel: Photothermal interferometry for nondestructive subsurface defect detection
Erscheinungsdatum: 1986
Dokumentart: Zeitschriftenartikel
Erschienen in: Optics communications 58 (1986), S. 295-299. URL http://dx.doi.org./10.1016/0030-4018(86)90229-4
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61004
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4347
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4330
Zusammenfassung: A symmetrical interferometer as thermal expansion detector was developed for photothermal nondestructive material analysis. Phase and amplitude exchange phenomena have been observed, when introducing an electronic reference phase shifter mixed to the interferometer signal. Experimental and theoretical results obtained with this system are presented.
Enthalten in den Sammlungen:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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