Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: http://dx.doi.org/10.18419/opus-4379
Autor(en): Tiziani, Hans J.
Titel: Heterodyne interferometry using two wavelengths for dimensional measurements
Erscheinungsdatum: 1992
Dokumentart: Konferenzbeitrag
Erschienen in: Pryputniewicz, Ryszard J. (Hrsg.): Laser interferometry IV : computer aided interferometry. 22-24 July 1991, San Diego, California. Bellingham, Wash. : SPIE, 1992 (Proceedings / SPIE 1553). - ISBN 0-8194-0681-3, S. 490-501
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61559
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4396
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4379
Zusammenfassung: Heterodyn interferometry is a powerful tool for high precision distance and vibration analysis. Two wavelength heterodyne techniques become very interesting for absolute distance measurement. It was shown, that a synthetic wavelength can be generated by two shorter ones. This leads also to the techniques to measure optically rougher surfaces because the optical path difference is to be compared with the synthetic wavelength. Further work will be reported.
Enthalten in den Sammlungen:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

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