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http://dx.doi.org/10.18419/opus-7055
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DC Element | Wert | Sprache |
---|---|---|
dc.contributor.author | Staiger, Joachim | de |
dc.contributor.author | Groß, Peter | de |
dc.contributor.author | Lassmann, Kurt | de |
dc.contributor.author | Bracht, Hartmut | de |
dc.contributor.author | Stolwijk, Nicolaas A. | de |
dc.date.accessioned | 2009-10-12 | de |
dc.date.accessioned | 2016-03-31T11:41:48Z | - |
dc.date.available | 2009-10-12 | de |
dc.date.available | 2016-03-31T11:41:48Z | - |
dc.date.issued | 1994 | de |
dc.identifier.other | 318047063 | de |
dc.identifier.uri | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-47272 | de |
dc.identifier.uri | http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7072 | - |
dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.18419/opus-7055 | - |
dc.description.abstract | We analyse by phonon spectroscopy low lying phonon scattering states from defects that are introduced by the diffusion of Zn into thick Si wafers. | en |
dc.language.iso | en | de |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | de |
dc.subject.classification | Phononenspektroskopie , Phononenstreuung , Silicium , Gitterbaufehler | de |
dc.subject.ddc | 530 | de |
dc.title | Phonon spectroscopy of defects correlated with the diffusion of Zn into Si | en |
dc.type | article | de |
dc.date.updated | 2014-09-11 | de |
ubs.fakultaet | Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung | de |
ubs.fakultaet | Fakultät Mathematik und Physik | de |
ubs.institut | Sonstige Einrichtung | de |
ubs.institut | 1. Physikalisches Institut | de |
ubs.opusid | 4727 | de |
ubs.publikation.source | Materials science forum 143/147 (1994), S. 675-680. URL http://dx.doi.org./10.4028/www.scientific.net/MSF.143-147.675 | de |
ubs.publikation.typ | Zeitschriftenartikel | de |
Enthalten in den Sammlungen: | 15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung |
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