Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf

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DC Element	Wert	Sprache
dc.contributor.author	Schulz, Michael H.	de
dc.contributor.author	Wunderlich, Hans-Joachim	de
dc.date.accessioned	2012-04-23	de
dc.date.accessioned	2016-03-31T11:44:38Z	-
dc.date.available	2012-04-23	de
dc.date.available	2016-03-31T11:44:38Z	-
dc.date.issued	1990	de
dc.identifier.other	369725190	de
dc.identifier.uri	http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73187	de
dc.identifier.uri	http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7936	-
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.18419/opus-7919	-
dc.description.abstract	Neben dem eigentlichen Testen umfaßt eine Teststrategie die Auswahl eines geeigneten Fehlermodells, ein Verfahren für den prüfgerechten strukturierten Entwurf sowie die Testsatzerzeugung. Ziel dieser Prüfvorbereitung ist die Steigerung der Produktqualität sowie die Senkung der Testkosten bei integrierten Schaltungen.	de
dc.language.iso	de	de
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess	de
dc.subject.classification	Fehlermodell , Prüfprogramm , Integrierte Schaltung	de
dc.subject.ddc	621.3	de
dc.title	Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf	de
dc.type	article	de
ubs.fakultaet	Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung	de
ubs.institut	Sonstige Einrichtung	de
ubs.opusid	7318	de
ubs.publikation.source	Mikro-Elektronik 4 (1990), S. 112-115	de
ubs.publikation.typ	Zeitschriftenartikel	de
Enthalten in den Sammlungen:	15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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