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Autor(en): Schulz, Michael H.
Wunderlich, Hans-Joachim
Titel: Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf
Erscheinungsdatum: 1990
Dokumentart: Zeitschriftenartikel
Erschienen in: Mikro-Elektronik 4 (1990), S. 112-115
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73187
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7936
http://dx.doi.org/10.18419/opus-7919
Zusammenfassung: Neben dem eigentlichen Testen umfaßt eine Teststrategie die Auswahl eines geeigneten Fehlermodells, ein Verfahren für den prüfgerechten strukturierten Entwurf sowie die Testsatzerzeugung. Ziel dieser Prüfvorbereitung ist die Steigerung der Produktqualität sowie die Senkung der Testkosten bei integrierten Schaltungen.
Enthalten in den Sammlungen:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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