Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-7933
Authors: Kesel, Frank
Wunderlich, Hans-Joachim
Title: Automatische Synthese selbsttestbarer Moduln für hochkomplexe Schaltungen
Issue Date: 1989
metadata.ubs.publikation.typ: Konferenzbeitrag
metadata.ubs.publikation.source: Mikroelektronik für die Informationstechnik 1989 : vom 3. bis 5. Oktober 1989 in Stuttgart. Berlin : VDE-Verl., 1989 (ITG-Fachbericht 110), S. 63-68
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73336
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7950
http://dx.doi.org/10.18419/opus-7933
Abstract: Für den Test hochkomplexer digitaler Schaltungen bieten sich Selbsttestverfahren an, die auf multifunktionalen linear rückgekoppelten Schieberegistern beruhen. Diese erzeugen Pseudozufallsmuster und komprimieren die Testantworten zu einer Signatur. Durch einen automatischen Einbau der Selbsttestausstattung kann die Korrektheit des Entwurfs gewährleistet werden. Im vorliegenden Beitrag wird ein Verfahren vorgestellt, mit welchem sich multifunktionale Registerschaltungen automatisch synthetisieren lassen, welche gleich- und ungleichverteilte Pseudozufallsmuster erzeugen und die Testantworten durch Signaturanalyse komprimieren. Sie werden als Standardzellen erzeugt und können automatisch plaziert und verdrahtet werden.
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