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http://dx.doi.org/10.18419/opus-7935
| Autor(en): | Wunderlich, Hans-Joachim |
| Titel: | The design of random-testable sequential circuits |
| Erscheinungsdatum: | 1989 |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag |
| Erschienen in: | Digest of papers / FTCS 19. Washington, DC : IEEE Computer Soc. Pr., 1989. - ISBN 0-8186-1959-7, S. 110-117. URL http://dx.doi.org./ 10.1109/FTCS.1989.105552 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73357 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7952 http://dx.doi.org/10.18419/opus-7935 |
| Zusammenfassung: | A method is described for selecting a minimal set of directly accessible flip-flops. Since this problem turns out to be NP-complete, suboptimal solutions can be derived using some heuristics. An algorithm is presented to compute the corresponding weights of the patterns, which are time-dependent in some cases. The entire approach is validated with the help of examples. Only 10-40% of the flip-flops have to be integrated into a partial scan path or into a built-in self-test register to obtain nearly complete fault coverage by weighted random patterns. |
| Enthalten in den Sammlungen: | 15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung |
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