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1987Lasergestützte MeßtechnikTiziani, Hans J.
1984Auslegung von Kompensationssystemen zur interferometrischen Prüfung asphärischer FlächenDörband, Bernd; Tiziani, Hans J.
1984Determination of average roughness and profile autocorrelation width of metallic surfaces with a white light sensorLeonhardt, Klaus; Kaufmann, Ekkehart; Tiziani, Hans J.
1986Grundlagenuntersuchung, Entwicklung und Erprobung optischer Sensoren für die Qualitätssicherung und zum Einsatz an Montagerobotern in der flexiblen Montage : Teilprojekt A4Tiziani, Hans J.; Malz, Reinhard; Seitz, Günther; Höller, Frank S.; Bolognini, Nestor
1987Optische Mikroprofilometrie und RauheitsmessungLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1987Rechnerunterstützte Laser-MeßtechnikTiziani, Hans J.
1986A spatial light modulator using BSO crystalsHöller, Frank S.; Tiziani, Hans J.
1983Neue Entwicklungen der berührungslosen optischen MeßverfahrenTiziani, Hans J.
1988A comparison of methods to measure the modulation transfer function of aerial survey lens systems from the image structuresLei, Fang; Tiziani, Hans J.
19883-D-Koordinatenmessung durch optische TriangulationSeitz, Günther; Tiziani, Hans J.; Litschel, Reinhold

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