1. OPUS

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ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1980Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystalsTiziani, Hans J.; Leonhardt, Klaus; Klenk, Jürgen
1981Real-time contour holography using BSO crystalsKüchel, Michael; Tiziani, Hans J.
1986Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6Tiziani, Hans J.
2002Farbkodierte objektangepasste Streifenprojektion für die schnelle 2D- und 3D-QualitätsprüfungHaist, Tobias; Tiziani, Hans J.
1986Grundlagenuntersuchung, Entwicklung und Erprobung optischer Sensoren für die Qualitätssicherung und zum Einsatz an Montagerobotern in der flexiblen Montage : Teilprojekt A4Tiziani, Hans J.; Malz, Reinhard; Seitz, Günther; Höller, Frank S.; Bolognini, Nestor
1993Holographisch-optische Elemente zur Strahlformung : Teilprojekt A1Haupt, Christoph; Pahlke, Michael; Jäger, Ernst; Tiziani, Hans J.
1984Determination of average roughness and profile autocorrelation width of metallic surfaces with a white light sensorLeonhardt, Klaus; Kaufmann, Ekkehart; Tiziani, Hans J.
1990Oberflächenmesstechnik mit optischen VerfahrenTiziani, Hans J.
1991Phase shifting in an oblique incidence interferometerBoebel, Doris; Packroß, Bernd; Tiziani, Hans J.
1994Oblique incidence and observation electronic speckle-pattern interferometryJoenathan, Charles; Franze, Bernhard; Tiziani, Hans J.

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