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1983Abbildungsqualität photogrammetrischer Objektive unter Berücksichtigung von UmwelteinflüssenTiziani, Hans J.
1982Real time metrology with BSO crystalsTiziani, Hans J.
1982Removing ambiguities in surface roughness measurementLeonhardt, Klaus; Tiziani, Hans J.
1980Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystalsTiziani, Hans J.; Leonhardt, Klaus; Klenk, Jürgen
1981Vibration analysis by speckle techniques in real timeTiziani, Hans J.; Klenk, Jürgen
1981Real-time contour holography using BSO crystalsKüchel, Michael; Tiziani, Hans J.
1985Verfahren zur optischen Rauheitsmessung und MikroprofilometrieLeonhardt, Klaus; Rippert, Karl-Heinz; Tiziani, Hans J.
1983Temperature induced deformations in BSO crystals due to photoconductivityLeonhardt, Klaus; Tiziani, Hans J.
1983Berührungslose optische EchtzeitmesstechnikTiziani, Hans J.
1986Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6Tiziani, Hans J.

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