1. OPUS

Suche


Aktuelle Facetten:


Neue Suche starten
Facetten hinzufügen:

Wenden Sie Filter/Facetten an, um Ihre Suche zu verfeinern.

 | 
Treffer 1-10 von 30 (Suchzeit: 0.024 Sekunden).
Treffer Dokumente:
ErscheinungsdatumTitelAutor(en)
1980Real-time displacement and tilt analysis by a speckle technique using Bi12SiO20-crystalsTiziani, Hans J.; Leonhardt, Klaus; Klenk, Jürgen
1981Real-time contour holography using BSO crystalsKüchel, Michael; Tiziani, Hans J.
1986Objektvermessung mit bildanalysegestützten 3D-Meßverfahren : allgemeine Angaben zum Teilprojekt C6Tiziani, Hans J.
1986Grundlagenuntersuchung, Entwicklung und Erprobung optischer Sensoren für die Qualitätssicherung und zum Einsatz an Montagerobotern in der flexiblen Montage : Teilprojekt A4Tiziani, Hans J.; Malz, Reinhard; Seitz, Günther; Höller, Frank S.; Bolognini, Nestor
1984Determination of average roughness and profile autocorrelation width of metallic surfaces with a white light sensorLeonhardt, Klaus; Kaufmann, Ekkehart; Tiziani, Hans J.
1989Optical methods for precision measurementsTiziani, Hans J.
1988Laser application for precision measurementsTiziani, Hans J.
1985Testing aspheric surfaces with computer-generated holograms : analysis of adjustment and shape errorsDörband, Bernd; Tiziani, Hans J.
1988Untersuchung der Störanfälligkeit von Meßverfahren zur Bestimmung der MTF aus der KantenbildanalyseLei, Fang; Tiziani, Hans J.
1987Speckleverfahren zur absoluten AbstandsmessungHege, Günter; Tiziani, Hans J.

Facetten