Kesel, FrankWunderlich, Hans-Joachim2012-04-272016-03-312012-04-272016-03-311989370124693http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73336http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7950http://dx.doi.org/10.18419/opus-7933Für den Test hochkomplexer digitaler Schaltungen bieten sich Selbsttestverfahren an, die auf multifunktionalen linear rückgekoppelten Schieberegistern beruhen. Diese erzeugen Pseudozufallsmuster und komprimieren die Testantworten zu einer Signatur. Durch einen automatischen Einbau der Selbsttestausstattung kann die Korrektheit des Entwurfs gewährleistet werden. Im vorliegenden Beitrag wird ein Verfahren vorgestellt, mit welchem sich multifunktionale Registerschaltungen automatisch synthetisieren lassen, welche gleich- und ungleichverteilte Pseudozufallsmuster erzeugen und die Testantworten durch Signaturanalyse komprimieren. Sie werden als Standardzellen erzeugt und können automatisch plaziert und verdrahtet werden.deinfo:eu-repo/semantics/openAccessSelbsttest , Signaturanalyse , Fehlererkennung621.3conferenceObject2012-04-27