Tiziani, Hans J.2011-03-212016-03-312011-03-212016-03-311993366527827http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61755http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4417http://dx.doi.org/10.18419/opus-4400Im Gegensatz zu der holografischen Interferometrie ermöglicht die Speckle-Interferometrie eine reine elektrooptische Datenaufzeichnung mit fernsehtechnischen Mitteln. Die zumeist fotografische Aufzeichnung und umständliche, aber auch zeitintensive Entwicklung der Speckle-lnterferogramme kann entfallen. Dies wird möglich, weil in der Speckle-lnterferometrie die Specklegröße der Ortsauflösung des Speichers angepaßt werden kann. Damit bietet sich die Speckle-Interferometrie für die industrielle Prüf- und Meßtechnik an, zumal die Empfindlichkeit vergleichbar ist mit der holografischer Verfahren (Bildebenenholografie). Die elektronische Specklemuster-Interferometrie (ESPI: electronic speckle pattern interferometry) wird in letzter Zeit zunehmend eingesetzt bei Schwingungs- und Verformungsmessungen.deinfo:eu-repo/semantics/openAccessSpeckle-Interferometrie , Optische Messtechnik530bookPart2012-06-11