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Auflistung nach Autor Tiziani, Hans J.
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Titel
Autor(en)
1983
Beitrag zur Verwendung von Zernike-Polynomen bei der automatischen Interferenzstreifenauswertung
Küchel, Michael
;
Schmieder, Thomas
;
Tiziani, Hans J.
1983
Berührungslose optische Echtzeitmesstechnik
Tiziani, Hans J.
1975
Beurteilung der Bildqualität mit Hilfe der optischen Übertragungsfunktion
Tiziani, Hans J.
1977
Beurteilung der Bildqualität von Luftbildkammern
Tiziani, Hans J.
1993
Beurteilung der Wellenfront von CO2-Lasern mittels phase retrival
Hembd, Christian
;
Tiziani, Hans J.
1992
Calibration of the inclined contour planes formed on ESPI and optimization of ESPI optical system for contouring
Diao, Hongyan
;
Zou, Yunlu
;
Peng, Xiang
;
Tiziani, Hans J.
;
Chen, L.
1993
Collimating laser diodes with hybrid optics
Haupt, Christoph
;
Jäger, Ernst
;
Rothe, Andreas
;
Daffner, Michael
;
Tiziani, Hans J.
1994
A combined distance and surface profile measurement system for industrial applications : a european project
Docchio, Franco
;
Perini, Umberto
;
Tiziani, Hans J.
1988
A comparison of methods to measure the modulation transfer function of aerial survey lens systems from the image structures
Lei, Fang
;
Tiziani, Hans J.
1992
Computer synchronized 3D-triangulation sensor for robot vision
Wieland, Paul
;
Tiziani, Hans J.
1994
Contouring by electronic speckle pattern interferometry employing divergent dual beam illumination
Zou, Yunlu
;
Pedrini, Giancarlo
;
Tiziani, Hans J.
1990
Contouring by electronic speckle pattern interferometry employing dual beam illumination
Joenathan, Charles
;
Pfister, Berthold P.
;
Tiziani, Hans J.
1992
Contouring by electronic speckle pattern interferometry with quadruple-beam illumination
Zou, Yunlu
;
Diao, Hongyan
;
Peng, Xiang
;
Tiziani, Hans J.
1992
Contouring by modified dual-beam ESPI based on tilting illumination beams
Peng, Xiang
;
Diao, Hongyan
;
Zou, Yunlu
;
Tiziani, Hans J.
1992
Contouring using two-wavelength electronic speckle pattern interferometry employing dual-beam illuminations
Diao, Hongyan
;
Peng, Xiang
;
Zou, Yunlu
;
Tiziani, Hans J.
;
Chen, L.
1987
Current state of optical testing
Tiziani, Hans J.
1994
Derivatives obtained directly from displacement data
Zou, Yunlu
;
Pedrini, Giancarlo
;
Tiziani, Hans J.
1993
Design consideration of a dual-beam ESPI optical system for contouring
Diao, Hongyan
;
Zou, Yunlu
;
Tiziani, Hans J.
1993
Design of diffractive optical elements for CO2-laser material processing
Haupt, Christoph
;
Pahlke, Michael
;
Jäger, Ernst
;
Tiziani, Hans J.
1984
Determination of average roughness and profile autocorrelation width of metallic surfaces with a white light sensor
Leonhardt, Klaus
;
Kaufmann, Ekkehart
;
Tiziani, Hans J.