Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: http://dx.doi.org/10.18419/opus-4321
Autor(en): Tiziani, Hans J.
Titel: Current state of optical testing
Erscheinungsdatum: 1987
Dokumentart: Konferenzbeitrag
Erschienen in: Creath, Katherine (Hrsg.): Surface characterization and testing. Bellingham, Wash. : SPIE, 1987 (Proceedings / SPIE 680). - ISBN 0-89252-715-3, S. 2-9
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-60946
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4338
http://dx.doi.org/10.18419/opus-4321
Zusammenfassung: Basic interferometry and holographic interferometry are becoming useful tools for precision measurements. The use of electronic solid state detector arrays, together with small computers for extracting the information from the interferograms improve their applications. Computer analysis is becoming increasingly important. A lot of information can be extracted from the interferograms leading to higher sensitivities and accuracies.
Enthalten in den Sammlungen:07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik

Dateien zu dieser Ressource:
Datei Beschreibung GrößeFormat 
tiz48.pdf1,38 MBAdobe PDFÖffnen/Anzeigen


Alle Ressourcen in diesem Repositorium sind urheberrechtlich geschützt.