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http://dx.doi.org/10.18419/opus-4324
| Autor(en): | Sodnik, Zoran Tiziani, Hans J. |
| Titel: | Remote nondestructive material analysis by photothermal interferometry |
| Erscheinungsdatum: | 1987 |
| Dokumentart: | Konferenzbeitrag |
| Erschienen in: | European Conference on Optics, Optical Systems and Applications 1986 : 30 Sept. - 3 Oct. 1986, Firenze, Italy. Bellingham, Wash. : SPIE, 1987 (Proceedings / SPIE 701). - ISBN 0-89252-736-6, S. 259-262 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-61011 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/4341 http://dx.doi.org/10.18419/opus-4324 |
| Zusammenfassung: | Interferometry is used for the detection of thermal waves to study material properties. A symmetrical interferometer as thermal expansion detector was developed for photothermal nondestructive material analysis. After mixing a phase shifted reference signal electrically to the interferometer signal, phase and amplitude exchange phenomena have been observed. |
| Enthalten in den Sammlungen: | 07 Fakultät Konstruktions-, Produktions- und Fahrzeugtechnik |
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