Browsing by Author "Pfister, Berthold P."

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    Contouring by electronic speckle pattern interferometry employing dual beam illumination
    (1990) Joenathan, Charles; Pfister, Berthold P.; Tiziani, Hans J.
    In this paper we extend and study the method for generating contours of diffuse objects employing a dual beam illumination coupled with electronic speckle pattern interferometry. The sensitivity and the orientation of the contour planes are analyzed. A novel method for tilting the planes of contours and experimental results incorporating phase shifting and fringe analysis are also presented. The theoretical and the experimental results show good agreement.
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    Double pulse-electronic speckle interferometry
    (1993) Pedrini, Giancarlo; Pfister, Berthold P.; Tiziani, Hans J.
    In this paper we describe a double-pulsed electronic speckle interferometry system. Two separated speckle patterns are recorded within few microseconds using a charge-coupled device camera, the two images are then stored in a frame grabber and the subtraction method is applied. A quantitative analysis of the fringes using the spatial-carrier phase-shift method is presented. The results show that this method is well suited to study transient vibrations.
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    Echtzeitholografie mit BSO-Kristall zum Messen der Schichtdickenänderung beim Aushärten von Zwei-Komponenten-Klebstoffen
    (1987) Pfister, Berthold P.; Tiziani, Hans J.
    Die Präzisions-Klebeverbindungen empfindlicher Bauteile können infolge der Schichtdickenänderung des Klebstoffs beim Aushärten (Schwinden) neben maßlichen Veränderungen auch erhebliche Spannungen und daraus resultierende unzulässige Bauteildeformationen auftreten. Um die Schichtdickenänderung quantitativ erfassen zu können, sind insbesondere berührungslos messende Verfahren geeignet, da die Messungen während des Aushärtens des Klebstoffes, d.h. in seiner "flüssigen Phase" erfolgen müssen. Unter bestimmten noch zu erörternden Voraussetzungen bietet sich die Echtzeitholografie an, diese Meßaufgabe zu lösen.