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http://dx.doi.org/10.18419/opus-14585
| Autor(en): | Sayed, Munazza Ni, Kai Amrouch, Hussam |
| Titel: | Modeling and investigating total ionizing dose impact on FeFET |
| Erscheinungsdatum: | 2023 |
| Dokumentart: | Zeitschriftenartikel |
| Seiten: | 143-150 |
| Erschienen in: | IEEE journal on exploratory solid-state computational devices and circuits 9 (2023), S. 143-150 |
| URI: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-ds-146047 http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/14604 http://dx.doi.org/10.18419/opus-14585 |
| ISSN: | 2329-9231 |
| Enthalten in den Sammlungen: | 05 Fakultät Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik |
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