Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.18419/opus-2872
Authors: Schneider, Eric
Title: Adaptive simulationsbasierte Diagnose von Verzögerungsfehlern in kombinatorischen Schaltungen
Other Titles: Adaptive simulation-based diagnosis of small delay faults in combinational logic circuits
Issue Date: 2012
metadata.ubs.publikation.typ: Abschlussarbeit (Diplom)
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-75042
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/2889
http://dx.doi.org/10.18419/opus-2872
Abstract: Bei der Chipproduktion können systematische Defekte auftreten, die das Zeitverhalten der Schaltung beeinflussen, sodass die Chips bei Echtzeitbedingungen kleinste Verzögerungsfehler (sog. Small Delays) verursachen. Um fehleranfällige Stellen innerhalb eines Chips ausfindig zu machen und das Layout und die Prozessparameter bei der Herstellung entsprechend anpassen zu können, müssen fehlerhafte Chips diagnostiziert werden. Die genaue logische Diagnose von kleinsten Verzögerungsfehlern ist aufgrund der hohen Komplexität sehr aufwändig, weshalb hierbei typischerweise auf einfache Fehlermodelle, wie z.B. dem Transitionsfehlermodell, zurückgegriffen wird, welche Small Delay Fehler jedoch nur unzureichend abdecken und bei Variationen im Chip irreführend sein können. In dieser Arbeit wird ein neuartiges logisches Diagnoseverfahren vorgestellt, welches mit Hilfe von präziser Zeitsimulation kleinste Verzögerungsfehler in kombinatorischen Schaltkreisen auch unter Variationen effizient und stabil diagnostizieren kann. Hierbei werden die initialen Fehlerkandidaten zunächst mit Hilfe von Effect-Cause Methoden reduziert und anschließend die Defektstelle, sowie die Defektgröße, durch eine selektive Simulation der verbleibenden Kandidaten mit wenigen Simulationsschritten bestimmt. Die Diagnostizierfähigkeit der Methode wird anhand von Experimenten mit gängigen Benchmark Schaltkreisen, sowie industriellen Schaltkreisen gezeigt.
Appears in Collections:05 Fakultät Informatik, Elektrotechnik und Informationstechnik

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
DIP_3245.pdf976,41 kBAdobe PDFView/Open


Items in OPUS are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.