Strukturelle Feldtests komplexer ASICs

Abstract

In dieser Ausarbeitung wird ein zerstörungsfreier Befundungstest für Kfz-Steuergeräte vorgestellt. Hersteller von Automobilelektronik können bisher nicht nachweisen, dass ein an den Kfz-Hersteller ausgeliefertes Steuergerät wirklich fehlerfrei ist, obwohl zur Minimierung des Testaufwands bei der Produktion der enthaltenen ASICs (Application Specific ICs) schon während der Entwicklungsphase des Chipdesigns strukturelle, standardisierte Testmethoden und eingebaute Selbsttests (BIST, Built-In Self-Test) integriert werden. Es soll nun beispielhaft an einem ASIC aufgezeigt werden, in wie weit diese Methoden beim strukturellen Feldtest von Automobil-Steuergeräten - im Rahmen eines zerstörungsfreien Befundungstests von Feldrückläufern - Verwendung finden. Der Test ermöglicht neben der Klärung teurer Garantieansprüche auch eine verlässliche Informationsquelle für ein eventuelles Redesign. Durch die Implementierung des JTAG-Protokolls auf den Signalleitungen des steuergerät-internen SPI-Bus können ASIC-interne Selbsttests für Speicher und Analog-Digital-Converter (ADC) im verbauten Zustand ausgeführt werden. Die softwarebasierte Anwendung von Scan Patterns auf Steuergerät-Ebene ermöglicht einen einfachen Scan Test für ASICs ohne Logik-BIST. Es folgt ein Realisierungsvorschlag zur Prüfung aller steuergerät-internen Taktquellen, um die durch Kombination von BIST und softwarebasierten Methoden erreichbare Testabdeckung aufzuzeigen.