Zugriffsstatistik
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| Depth profiles of Ta2O5/SiO2/Si structures : a combined X-ray photoemission, Auger electron, and secondary ion mass spectroscopic study | 875 |
Gesamtzugriffe pro Monat
| Januar 2024 | Februar 2024 | März 2024 | April 2024 | Mai 2024 | Juni 2024 | Juli 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Depth profiles of Ta2O5/SiO2/Si structures : a combined X-ray photoemission, Auger electron, and secondary ion mass spectroscopic study | 8 | 8 | 4 | 8 | 10 | 8 | 11 |
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| gom3.pdf | 361 |
Häufigste Länder
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|---|---|
| Deutschland | 522 |
| Vereinigte Staaten | 238 |
| China | 26 |
| Schweden | 18 |
| Irland | 16 |
| Vereinigtes Königreich | 12 |
| Russland | 8 |
| Finnland | 5 |
| Singapur | 5 |
| Vereinigte Arabische Emirate | 3 |
Häufigste Städte
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|---|---|
| Frankfurt am Main | 371 |
| Ashburn | 167 |
| Berlin | 28 |
| Dublin | 16 |
| Southend | 10 |
| Buffalo | 7 |
| Stuttgart | 7 |
| Munich | 5 |
| Singapore | 5 |
| Des Moines | 4 |