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dc.contributor.authorWunderlich, Hans-Joachimde
dc.contributor.authorSchulz, Michael H.de
dc.date.accessioned2012-04-17de
dc.date.accessioned2016-03-31T11:44:34Z-
dc.date.available2012-04-17de
dc.date.available2016-03-31T11:44:34Z-
dc.date.issued1992de
dc.identifier.other36953588Xde
dc.identifier.urihttp://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73011de
dc.identifier.urihttp://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7914-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.18419/opus-7897-
dc.description.abstractDer Beitrag gibt einen Überblick über die wichtigsten praxisrelevanten Teststrategien, wobei unter einer Teststrategie nicht nur die Verfahren zur Testsatzerzeugung und zur eigentlichen Testdurchführung, sondern auch das zugrunde liegende Fehlermodell und die erforderlichen testfreundlichen Entwurfsmaßnahmen, die die Voraussetzung für die Anwendung dieser Verfahren darstellen, zu verstehen sind. Es werden die gängigsten Methoden zum konventionellen externen Test vorgestellt und bewertet sowie das Prinzip der immer breitere Anwendung findenden Selbsttestmethoden und ihre Vorteile erläutert. Nach einem kurzen Ausblick auf die Fortschritte, die Verfahren zur automatischen Synthese testbarer Schaltungen erhoffen lassen, werden schließlich Aspekte des Systemtests und insbesondere das Boundary-Scan-Prinzip und die damit verbundenen Vorteile diskutiert.de
dc.language.isodede
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessde
dc.subject.classificationSelbsttest , Fehlermodell , LSIde
dc.subject.ddc621.3de
dc.titlePrüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter Schaltungende
dc.typearticlede
dc.date.updated2012-04-17de
ubs.fakultaetFakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtungde
ubs.institutSonstige Einrichtungde
ubs.opusid7301de
ubs.publikation.sourceInformatik-Spektrum 15 (1992), S. 23-32de
ubs.publikation.typZeitschriftenartikelde
Enthalten in den Sammlungen:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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