Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: http://dx.doi.org/10.18419/opus-7908
Autor(en): Wunderlich, Hans-Joachim
Ströle, Albrecht P.
Titel: Maximizing the fault coverage in complex circuits by minimal number of signatures
Erscheinungsdatum: 1991
Dokumentart: Konferenzbeitrag
Erschienen in: 1991 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Vol. 3 : Analog, circuits and neural networks. Piscataway, NJ : IEEE, 1991. - ISBN 0-7803-0050-5, S. 1881-1884
URI: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:93-opus-73115
http://elib.uni-stuttgart.de/handle/11682/7925
http://dx.doi.org/10.18419/opus-7908
Zusammenfassung: Methods to minimize the number of evaluated signatures without reducing the fault coverage are presented. This is possible because the signatures can influence one another during the test execution. For a fixed test schedule a minimal subset of signatures can be selected, and for a predetermined minimal subset of signatures the test schedule can be constructed such that the fault coverage is maximum. Both approaches result in significant hardware savings when a self-test is implemented.
Enthalten in den Sammlungen:15 Fakultätsübergreifend / Sonstige Einrichtung

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